梅特勒-托利多创新的微量和超微量天平XP/XS设立了高效称量、用户友好的操作界面和高质量的新标准。这些微量天平可以提供现有分析天平具有的Z高分辨率：高达*的52,000,000位。明亮的触摸显示屏、智能化用户操作指导以及无需用手接触的红外防风罩控制功能使得该系列高精度天平称量更快速、操作更简便、更有趣味。

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